摘要： 利用X射线光电子能谱(XPS)分析技术,研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P,解析并对比原药及残留农药中P的化学结构。结果显示,氧乐果中P部分转化为结合能为133.37 eV的O,O,S-三甲基磷酸酯;敌敌畏中P仍以O,O-二甲基-O-(2,2-二氯乙烯基)磷酸酯为主。表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测,方法简单、可靠性高。

关键词: XPS, 残留农药, 特征元素, 代谢结构