基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析

张欣艳; 苏润洲; 王乐新

doi:10.3969/j.issn.1004-3268.2010.05.020

河南农业科学 >

2010 , Vol. 39 >Issue 5: 76 - 100

DOI: https://doi.org/10.3969/j.issn.1004-3268.2010.05.020

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基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析

张欣艳 ,
苏润洲 ,
王乐新

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黑龙江八一农垦大学文理学院;东北林业大学理学院;

网络出版日期: 2010-05-15

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摘要

利用X射线光电子能谱(XPS)分析技术,研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P,解析并对比原药及残留农药中P的化学结构。结果显示,氧乐果中P部分转化为结合能为133.37 eV的O,O,S-三甲基磷酸酯;敌敌畏中P仍以O,O-二甲基-O-(2,2-二氯乙烯基)磷酸酯为主。表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测,方法简单、可靠性高。

关键词： XPS; 残留农药; 特征元素; 代谢结构

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张欣艳 , 苏润洲 , 王乐新 . 基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析[J]. 河南农业科学, 2010 , 39(5) : 76 -100 . DOI: 10.3969/j.issn.1004-3268.2010.05.020

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