设施杏抗风险栽培温度模式研究

潘自舒; 张兆合

doi:10.3969/j.issn.1004-3268.2009.04.031

河南农业科学 >

2009 , Vol. 38 >Issue 4: 107 - 110

DOI: https://doi.org/10.3969/j.issn.1004-3268.2009.04.031

设施杏抗风险栽培温度模式研究

潘自舒 ,
张兆合

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¹商丘职业技术学院,河南商丘476000;²商丘中等专业学校,河南商丘476000

网络出版日期: 2009-04-15

基金资助

河南省教育厅自然科学攻关项目（2007210030）

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摘要

温度是设施杏栽培成功与否的关键因子，通过对近10年气象资料的统计分析和不同棚体温度的对比分析，对花期、低温敏感期和第1次幼果脱落期3个阶段的日最低、最高温度范围进行了科学的界定，并提出了适宜区、次适宜区和危险区的概念。3个阶段适宜区最低、最高温度范围分别是2．1～7．7℃和13．0～18．8℃；3．2～8．1℃和13．3～19．0℃；4．3～10．6℃和15．2～24．1℃。同时各阶段在该范围的天数以不低于60％为宜，危险区所占天数应不超过10％，且避免出现“致死”的高温和低温。

关键词： 杏; 花期; 低温敏感期; 第1次幼果脱落期; 日最低温度; 日最高温度

本文引用格式

潘自舒 , 张兆合 . 设施杏抗风险栽培温度模式研究[J]. 河南农业科学, 2009 , 38(4) : 107 -110 . DOI: 10.3969/j.issn.1004-3268.2009.04.031

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