河南农业科学 ›› 2010, Vol. 39 ›› Issue (5): 76-100 .DOI: 10.3969/j.issn.1004-3268.2010.05.020
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张欣艳;苏润洲;王乐新;
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摘要： 利用X射线光电子能谱(XPS)分析技术,研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P,解析并对比原药及残留农药中P的化学结构。结果显示,氧乐果中P部分转化为结合能为133.37 eV的O,O,S-三甲基磷酸酯;敌敌畏中P仍以O,O-二甲基-O-(2,2-二氯乙烯基)磷酸酯为主。表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测,方法简单、可靠性高。
关键词: XPS, 残留农药, 特征元素, 代谢结构
中图分类号:
TS236
张欣艳;苏润洲;王乐新;. 基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析[J]. 河南农业科学, 2010, 39(5): 76-100 .
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