摘要： 分离和分析芝麻抗、感茎点枯病材料的抗病基因同源序列(resistance gene analogs,RGAs),可以为芝麻抗茎点枯病相关基因的克隆奠定基础。根据已知植物抗病基因的NBS-LRR类保守结构域,合成了1对简并引物和2对特异引物,对6个抗茎点枯病芝麻品种中的抗病基因进行扩增,结果得到11条抗病基因同源序列。BLAST X分析发现,获得的11条RGAs与已知的RGAs有较高的相似性,氨基酸相似性为42%～57%。聚类分析将其分成5个亚类,均属于non-TIR-NBS-LRR类抗病基因。其氨基酸序列都不同程度地含有NBS保守区的典型特征基序,其中P-loop-GLPL区域氨基酸序列与已知抗病基因对应区域的相似性为18.2%～49.7%。
