摘要：
为了研究农作物重金属Cu2+污染的高光谱遥感监测技术，设置了3种Cu2+胁迫程度（0 μg/g、250 μg/g、500 μg/g ）的玉米盆栽试验，实测了不同成熟度玉米叶片在3种Cu2+胁迫下的高光谱反射率、叶绿素含量和Cu2+含量，也对不同成熟度玉米叶片中叶绿素和Cu2+含量与土壤中Cu2+含量的关系进行了分析。同时为了实现基于高光谱遥感信息区分Cu2+胁迫程度及预测Cu2+含量，提出了红边一阶微分偏移面积（FMAR）和红边一阶微分面积偏移率（FMRR）的红边参数，并与常规的红边位置（REP）、红边最大值（MR）、红边一阶微分包围面积（FAR）等红边参数进行了区分与预测能力比较，实测数据与红边参数光谱分析结果表明，玉米叶片中的叶绿素含量随着成熟度的增加而升高，随着土壤中Cu2+含量的升高而降低；红边位置在Cu2+胁迫时的蓝移没有老叶片到新叶片蓝移明显；FMAR和FMRR在区分Cu2+胁迫程度及预测Cu2+含量方面比REP、MR和FAR效果好。
杨可明，史钢强，刘飞，孙阳阳，魏华锋. 监测玉米叶片中Cu2+胁迫的光谱红边参数研究[J]. 河南农业科学, 2015, 44(8): 160-164.
